Но даже самые оптимистичные прогнозы не предсказывали в текущем году такого ажиотажа вокруг данного мероприятия и количество регистрирующихся гостей. За три дня до начала конференции организаторы были вынуждены прекратить регистрацию в связи с рекордным количеством участников и физической невозможностью вместить всех желающих.
На плечи принимающей стороны, а именно специалистов Направления технологий контроля, легла серьезная нагрузка. Поскольку мероприятие, посвященное вопросам качества, должно было быть организовано на высшем уровне, пришлось подключать дополнительные ресурсы и искать резервы. Гости отметили высокий уровень организации конференции, профессионализм экспертов, каждому участнику было уделено достаточное внимание. Уже традиционно под одной крышей собрались научные работники и производственники, металлурги и нефтяники, электронщики и искусствоведы, теоретики и практики. Для каждого нашлась тема в соответствующей секции, которых было три: материаловедение и металлообработка, нефть и газ, электроника и микроэлектроника.
Конференция открылась 6 апреля в Москве, в выставочном центре «ИнфоПространство». В ходе пленарной части было рассказано об изменениях, произошедших в НТК за минувший год, представлены новые виды деятельности, в частности, тема контроля геометрии тел вращения. Затем слушатели прослушали доклады о применении различных методов контроля в других областях науки и производства и весьма любопытную информацию о применении компьютерной томографии в расследовании причин автокатастроф. После этого произошло разделение на секции, где и продолжилась работа.
Одно из нововведений этого года — организация автобусного трансфера Москва-Владимир-Москва для участников практической части конференции, запланированной в Центре технологий контроля на 7 апреля. Это поспособствовало формированию атмосферы, располагающей к общению и знакомствам между участниками в неформальной обстановке.
Второй день прошел не менее продуктивно, чем первый. Гости центра смогли увидеть работу самых современных установок рентгеновского контроля и компьютерной томографии v|tome|x c450, v|tome|x m300, x|cube XL225, а также оценить процесс инспекции геометрии распредвала при помощи MTL 1250 X‑Stream. Для каждой из секций были организованы интересные доклады с сопутствующей демонстрацией систем.
Подводя итог, можно сказать, что конференция поднялась еще на одну ступень, предоставив слушателям больше качественной информации, больше пользы, больше прогрессивных технологий контроля и, наконец, больше комфорта и сервиса, чем год назад. Неуклонно возрастающее количество участников — верное свидетельство актуальности и востребованности данной темы, и, следовательно, правильно выбранного вектора развития мероприятия.
Направление технологий контроля Остек-СМТ сердечно благодарит всех гостей конференции «НТК‑2016» и надеется на встречу в следующем году.

Особую признательность за помощь в организации мероприятия и высокое качество предоставленного материала мы выражаем приглашенным докладчикам:
А. Egbert, J. Schache (General Electric)
В. Becker, S. Rumyantsev (Volume Graphics)
К. Н. Абросимову (Почвенный институт им. В. В. Докучаева)
А. В. Аспидовой (НИИИТ)
Э. Э. Ахмадиеву (ЦЦТ)
А. Г. Баранову (ОКБ им. Сухого)
Д. Р. Гилязетдиновой, А. Н. Хомяку (МГУ им. Ломоносова)
И. П. Горбачеву (РКС)
А. Н. Денисову (ЭПАК-Сервис)
Ю. С. Ланцову, Д. А. Ширяеву (Исток)
Н. С. Ларичеву (МГТУ им. Баумана)
А. Н. Новиковой (Синеркон)
Л. Е. Беньяминовой (АСК-Рентген)
И. Д. Петрову (ВНИИА им. Духова)
Е. С. Прусову (ВлГУ им. Столетовых)
А. А. Фролову (Остек-АртТул)
С. С. Чугунову (Сколтех)
К. Ю. Шепелю (ВНИПИвзрывгеофизика)
Темы докладов и обсуждений на секциях
Секция «Материаловедение и металлообработка»
 Индустриальные КТ решения для НК и Метрологии
 Контроль геометрии и анализ свойств материалов
 Аддитивные технологии производства и методы их контроля
 Применение КТ в рамках современного инженерного центра
 Применение рентгеновской томографии при исследовании конструкционных материалов и отработки технологий в авиационной промышленности
 Исследование влияния напряженно-деформированного состояния на количество и форму усадочных дефектов в отливке
 Индустриальные рентгенсистемы для 2Д и КТ НК на заводах

Секция «Электроника и микроэлектроника»
 Использование метода микрофокусной рентгеновской томографии для неразрушающего контроля микроэлектронных устройств и датчиков давления
 Технология рентгеновской толщинометрии и анализа элементного состава в сфере электроники
 Возможности современного рентгеновского томографа в анализе качества многослойных печатных плат
 Расширенные возможности планарной КТ
 Технологии визуального контроля качества в сборочно-монтажном производстве
 Опыт применения рентгеновских систем при анализе отказов электронных изделий

Секция «Нефть и газ»
 Применение КТ в нефтегазовой сфере
 Применение РКТ для исследования фильтрационных характеристик пористых сред
 Рентгреновская микротомография в почвоведении. Опыт применения и перспективы
 Гониометр для описания структурных особенностей керна
 Volume Graphics — решения для нефтегазовой сферы
 Исследование морфологии и распределения сульфидных фаз методами компьютерной томографии
 Рентгеновская томография при контроле испытаний перфорации и кислотной обработки.

Направление технологий контроля ООО «Остек-СМТ»
info@ostec-ct.ru
www.ostec-ct.ru