Компания ZEISS Research Microscopy Solutions, поставщик систем неразрушающего контроля построением трехмерных изображений, представила систему микрокомпьютерной томографии ZEISS Xradia CrystalCT, позволяющую получать трехмерные кристаллографические изображения поликристаллических материалов для широкого диапазона металлов и сплавов. Система может применяться в аддитивном производстве и годится как для промышленных сфер, так и для академических лабораторий. ZEISS Xradia CrystalCT является первой в мире коммерческой реализацией соответствующей технологии, специально созданной для проведения дифракционно-контрастного томографического анализа, deliver diffraction contrast tomography, DCT, на традиционной компьютерной томографической системе.
Исследователям это дает возможность дополнять данные абсорбционно-контрастной томографии кристаллографической информацией в трех измерениях. ZEISS Xradia CrystalCT, это новейшая платформа Xradia для предоставления DCT, разработанная в сотрудничестве с Xnovo Technology ApS, пионером в области лабораторной дифракционной визуализации.
Бесшовное отображение зерна большого объема, увеличение репрезентативности объема данных по сравнению с традиционными деструктивными методами трехмерной кристаллографии обеспечивается расширенными режимами сбора данных, которые обеспечивают бесступенчатое сканирование для получения быстрых и точных данных трехмерного зерна.
Усовершенствованные режимы сканирования дополнительно снимают ограничения по размеру и скорости сбора данных для широкого диапазона обычных образцов в условиях высокопроизводительной лаборатории.
Возможность анализа проб большего размера снимает ограничения в лаборатории, позволяя использовать больше типов проб и сокращать время на подготовку, что сокращает время анализа. Более высокая скорость сбора данных позволяет сократить время анализа проб, увеличивая производительность лаборатории.
Способность отображать зернистую структуру и количественно определять лежащую в основе кристаллографическую ориентацию в таких материалах, как металлы, является инструментом для понимания и оптимизации свойств материала.
Неразрушающий характер микроконтактной визуализации облегчает понимание эволюции микроструктуры на месте, характеризуя влияние тепловых, механических или окружающих условий на поведение материала.
Такие исследования помогают оценивать характеристики, в частности, долговечность новых, более легких и прочных современных материалов и решать такие вопросы, как функциональность, безопасность и экономичность. Ранее DCT-визуализация была доступна только на синхротроне, пока она не была предложена на рентгеновском микроскопе ZEISS Xradia 620 Versa 3D в качестве модуля расширения.
ZEISS Xradia CrystalCT, это не только DCT-платформа, но и лучшая в своем классе система визуализации, обеспечивающая превосходное разрешение и качество изображения для различных задач трехмерной визуализации. Как говорит Дэниел Симс, глава отдела рентгеновской микроскопии ZEISS, CrystalCT воплощает годы передовых инноваций и достижений, которые теперь на платформах Xradia Versa доступны гораздо более широкой аудитории.
Формирующее рынок предложение CrystalCT предоставляет пользователям проверенную эффективность, необходимую для удовлетворения целого ряда потребностей в трехмерной визуализации. Клиенты получают дополнительную защиту инвестиций, так как эта платформа может быть расширена за счет широкого спектра дополнительных возможностей и обновлена до уровня лучших моделей Versa по мере расширения их бизнеса и лабораторий.
